JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射電子顯微鏡
JEM-ARM200F是一臺具有亞埃分辨率的掃描透射電子顯微鏡，配備有電子束球差校正系統、X-射線能譜儀和電子能量損失譜儀?？赏瑫r進行原子分辨率的成像和化學份分析。
掃描透射模式分辨率：暗場像 0.08 nm 明場像 0.14 nm
透射模式分辨率：點分辨率 0.19 nm 信息分辨率 0.10 nm
放大倍率：掃描透射模式 100 to 150,000,000X 透射模式 50 to 2,000,000X
光斑尺寸：最小直徑0.10nm
上一篇 離子減薄
掃描電子顯微鏡 下一篇
X射線衍射分析儀
電感耦合等離子體質譜儀
流變儀
首頁
產品
電話
地圖
感謝您的留言，我們會盡快回復您！
